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CTE 光電測試軟體

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CTE 軟體主要用於測試光電成像系統,包括熱像、可見光成像、雷射、和探測器等級。 CI Systems 的硬體及其 CTE 整合測試軟體為在已知且可靠的測試環境中進行光電測試提供了基本平台。
 
中常波紅外熱成像儀的 CTE 常見測試
MTF、NETD、SiTF、MRTD(主觀和客觀)、均勻度、FOV、失真、分辨率、SNR
 
短波紅外縣成像儀的 CTE 常見測試
MTF、最小可分辨對比度 (MRC)、均勻度、分辨率、SNR、動態範圍
 
可見光成像儀 CTE 中的常見測試
灰度(線性)、動態範圍、3D 雜訊、光暈、失真、FOV、IFOV
 
雷射 CTE 中的常見測試
激光能量/功率、激光 PRF、週期、激光發散、激光距離模擬
 
**CI-Systems 擁有超過 200 種不同的測試庫,可以根據客戶的需求進行調整
  • 簡單而且直覺:選擇測試、執行、查看結果。
  • 多用戶和多級保護 (選配)。
  • 每個測試都可單獨配置。 CTE 允許用戶編輯幾乎任何測試參數。
  • CTE 將所有執行的測試保存於數據庫中,並允許使用數據庫搜索引擎進行查尋。
  • CTE 生成一個可訂製的報告,其中包含作為部分 ATP 的所有需要的訊息。
  • 構建智能測試序列。
  • 所有裝置的手動控制模式 (選配)。
  • 線上 MTF 選項,用於即時成像儀焦點校準。
  • 離線模式選項,允許測試沒有視頻接口的成像儀。
  • 硬體模擬模式 (選配)。
  • 到裝置中心的遠距 TCP/IP 介面。
  • 追踪測試配置的更改。
  • 靈活的報告。選擇在報告中要查看的、要隱藏的、及要顯示的內容。