EZO CORPORATION

UD2 超音波里氏兩用硬度計

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UD2是多用途快速非破壞硬度檢測設備,結合了超音波接觸阻抗 (ASTM A1038) 和里氏 (ASTM A956) 種硬度測試法,使之可能解決任何硬度測試作業。包括量測具有粗糙表面的大試件或具有復雜形狀和薄壁的小試件。UD2 具有所有功能來測試各種材料和硬度,是金屬非破壞硬度測試的最佳裝置。UD2可測試鐵及非鐵金屬,鑄鐵及各種合金的硬度,以及確定從波來鐵等級起的碳鋼產品的抗拉強度。UD2使用動態探頭 (里氏),針對不同材料的主要硬度刻度內建預設校正,因此可量測與鋼特性不同的各種材料而無須校正。對材料的均勻性和表面粗度的要求較低,試件不需預處理即可直接測量。UD2使用超音波接觸阻抗探頭可測量厚度僅1mm的試件,或搭配測台(選配)可測量更薄的試件。無須額外的配件即可測量僅重100克的試件,搭配夾具,甚至可量測更輕的試件。可以測量凹槽和齒輪齒間產品的硬度;搭配專用的管嘴,甚至可測量線材等的曲面硬度。具有肉眼不可見的壓痕,將測後損壞減到最低,搭配特殊探頭減少負載力 (1kgf),使無損的硬度量測成為可能。UD2具備防震膠套,可免於數米高掉落故障。

  • 超聲波接觸阻抗及里氏兩種可移除探頭配有
  • 幾乎不限重量,型態、結構、曲度,熱處理等
  • 評估硬化層深度的硬度變化和表面應力的影響
  • 硬度值範圍廣
  • 方便容易操作
  • 帶背光的高對比顯示
  • 自動識別探頭
  • 極寬的工作溫度範圍,最低可至 -20°C
  • 具內部記憶體且可與個人電腦連線
UCI 探頭
1kgf (10N) 2.2 lbf
5kgf (50N) 11 lbf
10kgf (98N) 22 lbf
Leeb 探頭
D, DC, DL, C, D+15, E, G
壓頭
鑽石 (UCI)
硬化球 (Leeb)
硬度刻度
UCI: HRC, HB, HV
Leeb: HRC, HB, HV, HLD
量測範圍
Rockwell (HRC): 20-70
Brinell (HB): 90-650
Vickers (HV): 230-940
準確度
HRC: 2HRC
HB: 10HB
HV: 15HV
符合標準
ASTM A1038
ASTM A956
ASTM A370
ISO 16859
ASTM E140
ISO 18265
DIN 50159
GB/T 34205
量測方向
任何方向 360°
預先校正
UCI – 鋼
Leeb – 鋼, 合金鋼, 不鏽鋼, 鑄鐵
(額外的客製刻度及材料)
儲存
256筆
操作溫度
-20 ~ +40°C
電源
AA電池 x2
尺寸
60 x 25 mm
重量
<= 0.2 Kg (含電池)

標配

  • 硬度計
  • UCI 探頭 98N、50N 或 10N 探頭 (擇一)
  • Leeb 探頭 D型
  • AA 電池 x 2
  • 充電器    
  • USB 線
  • 操作手冊
  • 軟體
  • 收納箱

選配

  • 其他 UCI 及 Leeb 探頭
  • 電池
  • 充電器
  • 硬度測試塊
  • 可攜式研磨機
  • 攜帶箱
  • Leeb 探頭 D, DC 型用的支持環組
  • Leeb 探頭的衝擊體
10kgf
(98N)
增加負載的特種探頭。執行需要施加 10kgf負載的量測 (藉由轉換器自動設定)
低表面清潔度需求
  • 表面準備不良的熱處理和滲碳零件。
  • 葉片、粗糙的管或洞內壁。
5kgf
(50N)
主要探頭用於解決大部分的硬度量測工作。執行需要施加 5kgf 負載的量測 (藉由轉換器自動設定)
中表面清潔度需求
  • 熱處理和滲碳零件。如:軸,渦輪,齒輪,齒,焊道,熱影響區。
  • 凹槽內, 齒及曲面上量測。
  • 葉片、管道或孔洞內壁上量測。
1kgf
(10N)
減輕負載探頭 – 設計來量測對打印尺寸要求的產品 (拋光表面),量測薄表面硬化層,需要施加 1kgf 負載。
更需要表面清潔度
  • 壓鑄模,擠型模或薄壁零件的氮化或滲碳表層。
  • 軸承、齒面或鋸。
  • 薄硬化塗層。
  • 完工後的產品。

 

(上圖) U2 的 UCI 探頭上裝有附橡皮墊圈的管嘴,可幫助壓頭打在平坦表面時保持垂直,充分減少操作失誤

 

(上圖) 將上述的平板用管嘴翻轉後,變成特殊曲面墊圈,探頭可用小曲面上 (可測鐵線或銅線等)

 

(上圖) 卸除上述的兩用管嘴後探頭變小,可用來測量小零件或凹槽