光電測試

光電測台 (或測站) 由多種感應器 (或頻道) 組成。這些測台用來提供光電系統中所有感應器所需測試的問題的全面統包的解決方案。這些測台是根據美國軍規的測試設備，可用來測試在不同生命周期的光電系統。所有或部分下列的測試可由單一的統包測站完成。 光電測試的光源有黑體爐 (中波紅外及長波紅外用) 及積分球 (可見光，或近紅外用)。黑體爐分成平面與腔式兩種。黑體爐的發射器表面溫度受到精密的控制，用來產生穩定且準確的溫度或紅外線輻射。

光電測台是由準直儀為主，組合光源 (例如黑體或是積分球)，標靶，雷射等裝置組成一個影像正投射系統。準直儀是一個景象投射系統，用來模擬無限遠或特定距離的光源投射到待測試的觀測瞄準系統，來測試系統的距離性能或其他各種性能。它可以裝載可見光及近紅外 (短波紅外) 光源 (如：積分球)，中波及長波紅外的光源 (如：黑體爐)，配合標靶產生各種測試所需的投射圖樣，來自動執行可見光攝影機 (CCD)，前視紅外熱像機 (FLIR)，雷射 (Laser) ，以及覘視歸正 (Boresight) 測試。

雷射測台可測試雷射測距儀和雷射指示器的所有參數，包括：能量，脈衝寬度，脈衝重複頻率，發散，多範圍模擬，接收器靈敏度等。

通過單個或多個波段和帶通濾波器或可用的波長范圍，輻射計使用校準的輻射單元來測量物體或現象的電磁輻射的輻射通量 (功率密度) 的時間函數 (隨時間變化)。它可以以高靈敏度和高速同時在多通道中進行輻射測量。頻譜輻射計可在幾米到幾公里的距離內測量物體的頻譜特徵。測量既可以在頻譜上進行，產生輻射的波長函數，也可以通過輻射測量獲得輻射的時間函數。

飛彈警報測試儀 可以準確模擬 IR / Dual IR / UV / SWIR 中接近的飛彈輻射特徵。 在反制的情境下測試飛彈導引系統，以便評估飛彈對目標的獲取、追踪及性能。 紅外目標模擬器是具有紅外場景 (背景、目標和耀斑) 用於測量現場和實驗室中光源的光譜輻射的遙感設備。 

覘視規正利用光學儀器來量測兩種以上的光學之間，或光學與機械 (一般為武器) 之間的校準，並且藉此調整成校準狀態。

寬視角失真映射測台是相機製造廠用來量測及繪製寬視場角相機的失真圖為主的光電測試系統。

黑體爐的發射器表面溫度受到精密的控制，以產生穩定且準確的紅外線輻射。黑體爐分成平面與腔式兩種。平面黑體爐又分成絕對溫度及差異溫度兩種用途。絕對溫度黑體爐控制發射器的高發射率表面使其溫度準確穩定而且均勻。所以大部分用來做溫度遙測儀器例如熱像機或點溫槍的溫度校正用。也做為熱像機的非均勻度修正 (NUC) 以及壞像素取代 (BPR) 使用。差異溫度黑體爐需要控制黑體發射器以及標靶的溫度差異，所以需要同時量測黑體發射器及標靶 (浮動溫度) 的溫度。黑體由標靶後方輻射，藉由標靶與黑體之間的溫差 (正溫差與負溫差) 來產生熱像機可以看到的影像，並藉者控制溫度及轉換標靶所產生不同的圖案來測試熱像機的各種性能，例如：調制轉換函數 (MTF)，信號轉換函數 (SiTF)，雜訊等量溫差 (NETD)，最小可解析溫差 (MRTD)，視線保持 (LOS), 均勻度，等。

腔式黑體爐利用發射器的幾何形狀 (洞穴狀) 以及光圈 (孔徑) 來提高黑體的發射率。腔式黑體爐大部分用於高溫校正或產生高的紅外輻射用於景象模擬器等。腔式黑體爐會伴隨孔徑盤一起供貨。

黑體校正器是可追朔到 NIST (美國國家標準暨技術研究院) 的溫度校正器，用來全自動或半自動校正平面黑體或腔式黑體以及標靶上面的溫度感應器。

積分球 利用高反射的內部鍍層使系統輸出可連續變化強度且高於 98% 均勻度的可見光到短波紅外的光源。

背光光源為低價位高均勻的可見光光源，作為可見光相機測試時的背景光源。

標靶盤是用來準確地在平準儀的焦面或成像系統的間接視野上對位及置換光學標靶。

標靶是簍空的金屬板，簍空的部分有特定的圖案，例如：針孔、十字、半月、夾縫、方塊、四槓等。

切光器利用更換具有不同切斷頻率範圍的葉片，來切斷從黑體或積分球等放射出的輻射，用來為許多運用模擬各種輻射頻率，包含紅外干擾模擬及低光度輻射偵測。

軟體主要用於測試光電成像系統，包括熱像、可見光成像、雷射、和探測器等級。